mitutoyo-center.ru
Интернет-магазин представительского класса
Каталог
Малые инструментальные приборы и управление данными
Сенсорные системы
Сенсорные системы - LSM
Цифровые весы и системы DRO
Оптические измерительные системы
Измерение формы
Машины для испытания на твердость
Координатно-измерительные машины
Системы визуального измерения
Щупы и аксессуары
Системы крепления
Услуги
Сервисный центр
Дополнительные услуги
Доставка
Компания
О компании
Услуги
Доставка
Контакты
Контакты
+7 (495) 943-49-90
Заказать звонок
Задать вопрос
Войти
  • Корзина0
  • Отложенные0
info@mitutoyo-center.ru
г. Москва, Кавказский бульвар, д. 59
mitutoyo-center.ru
Войти
+7 (495) 943-49-90
Отложенные 0
Корзина 0
Каталог
  • Малые инструментальные приборы и управление данными
  • Сенсорные системы
  • Сенсорные системы - LSM
  • Цифровые весы и системы DRO
  • Оптические измерительные системы
  • Измерение формы
  • Машины для испытания на твердость
  • Координатно-измерительные машины
  • Системы визуального измерения
  • Щупы и аксессуары
  • Системы крепления
Услуги
  • Сервисный центр
  • Дополнительные услуги
Доставка
Компания
  • О компании
  • Услуги
  • Доставка
  • Контакты
Контакты
+  ЕЩЕ
    • Каталог
      • Назад
      • Каталог
      • Малые инструментальные приборы и управление данными
      • Сенсорные системы
      • Сенсорные системы - LSM
      • Цифровые весы и системы DRO
      • Оптические измерительные системы
      • Измерение формы
      • Машины для испытания на твердость
      • Координатно-измерительные машины
      • Системы визуального измерения
      • Щупы и аксессуары
      • Системы крепления
    • Услуги
      • Назад
      • Услуги
      • Сервисный центр
      • Дополнительные услуги
    • Доставка
    • Компания
      • Назад
      • Компания
      • О компании
      • Услуги
      • Доставка
      • Контакты
    • Контакты
    • Личный кабинет
    • Корзина0
    • Отложенные0
    • +7 (495) 943-49-90
    Контактная информация
    г. Москва, Кавказский бульвар, д. 59
    info@mitutoyo-center.ru

    Оптические измерительные системы

    232
    Главная
    —
    Каталог
    —Оптические измерительные системы
    Лупы
    Лупы 17 товаров
    Измерительные микроскопы
    Измерительные микроскопы 57 товаров
    Микроскопические единицы
    Микроскопические единицы 23 товара
    Цели на большом рабочем расстоянии
    Цели на большом рабочем расстоянии 60 товаров
    Измерительные проекторы
    Измерительные проекторы 64 товара
    M2 для измерительных микроскопов и проекторов
    M2 для измерительных микроскопов и проекторов 6 товаров
    ТАГЛЕНС
    ТАГЛЕНС 5 товаров
    Фильтр
    По популярности (возрастание)
    По популярности (убывание)
    По популярности (возрастание)
    По алфавиту (убывание)
    По алфавиту (возрастание)
    По цене (убывание)
    По цене (возрастание)
    Фильтр
    Сортировка
    По популярности (возрастание)
    • По популярности (убывание)
    • По популярности (возрастание)
    • По алфавиту (убывание)
    • По алфавиту (возрастание)
    • По цене (убывание)
    • По цене (возрастание)
    Выбрано 0 Показать
    Выбрано 0 Показать
    TAGLENS-T1 E-Set с TAGPAK-C и -E (379-011-1A)
    Быстрый просмотр
    TAGLENS-T1 E-Set с TAGPAK-C и -E (379-011-1A)
    Арт.: 379-011-1A
    Резонансная частота 70 kHz
    Эффективная апертура ø11 mm
    Пропускание 90% or more (400 nm to 700 nm)
    Диапазон рефракции 0,7 D to 1 D
    Положение, пригодное для установки All directions
    Точность гарантированного диапазона температур 15°C to 30°C
    Условия эксплуатации/влажность 10°C to 40°C / 40% to 70% RH or less (non-condensing)
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Программное и аппаратное обеспечение M2-2D для PV5110, включая блок обнаружения краев и крепление для планшета (63AAA462)
    Быстрый просмотр
    Программное и аппаратное обеспечение M2-2D для PV5110, включая блок обнаружения краев и крепление для планшета (63AAA462)
    Арт.: 63AAA462
    Функции M2 Software for Measuring Projectors
    Функция With edge detection
    Применимые модели PV5110
    Система состоит из M2 Metrology software,2 axis interface box and 15 pin connecting cables,Optical fibre and magnetic holder for sensor,Power supply and USB cable Machine bracket,RAM Ball,RAM arm,VESA mount (75 x 75 mm) for mounting the optional tablet PC to the projector body
    Необязательный, но необходимый аксессуар 63AAA597 All-in-One-PC with touch screen
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Радиус и транспортирная диаграмма ø 340 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (201393)
    Быстрый просмотр
    Радиус и транспортирная диаграмма ø 340 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (201393)
    Арт.: 201393
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    PJ-P1010A Профильный проектор, диапазон измерения XY=100x100 мм (302-801-10) PJ-P1010A Профильный проектор, диапазон измерения XY=100x100 мм (302-801-10) PJ-P1010A Профильный проектор, диапазон измерения XY=100x100 мм (302-801-10) PJ-P1010A Профильный проектор, диапазон измерения XY=100x100 мм (302-801-10)
    Быстрый просмотр
    PJ-P1010A Профильный проектор, диапазон измерения XY=100x100 мм (302-801-10)
    Арт.: 302-801-10
    Масса 114 kg
    Размер столешницы XY-сцены 250 x 250 mm
    Диапазон измерения XY 100 x 100 mm
    Эффективная площадь XY-платформы 142 x 142 mm
    Сценическое стекло № 12BAE041
    Максимальная загрузка ступени 10 kg
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    LCD Plan Apo NUV HR 50X (t0,7) (378-891-6) LCD Plan Apo NUV HR 50X (t0,7) (378-891-6)
    Быстрый просмотр
    LCD Plan Apo NUV HR 50X (t0,7) (378-891-6)
    Арт.: 378-891-6
    Функции Near-ultraviolet wavelength and LCD Glass Thickness CorrectedLCD Plan Apo NUV for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70Note: For 378-820-4, W.D. is just measured in air, not through an LCD glass
    Масса 500 g
    Р 0.4 µm
    Рабочее расстояние Through glass: 10 mmIn Air: 9.76 mm
    Увеличение 50x
    NA 0.65
    Сокращения в таблице продуктов N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of focusFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size
    Исправленная длина волны 355-620 nm
    ф 4 mm
    ПД 95 mm
    Поле зрения 1 ø0.48 mm
    Поле зрения 2 0,1 x 0,13 mm
    ДФ 0.7 μm
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскопический блок VMU-V (378-505) Микроскопический блок VMU-V (378-505)
    Быстрый просмотр
    Микроскопический блок VMU-V (378-505)
    Арт.: 378-505
    Масса 570 g
    Источник света Halogen bulb (21V, 150W) (optional)
    Отражённое освещение - Telecentric system with aperture stop system- Fibre-optic illuminator (optional) is required
    Применимая длина волны Near-infrared and visible radiation
    Крепление блока оптоволоконной подсветки Yes
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскопический блок FS70L4 (378-187-1) Микроскопический блок FS70L4 (378-187-1) Микроскопический блок FS70L4 (378-187-1) Микроскопический блок FS70L4 (378-187-1)
    Быстрый просмотр
    Микроскопический блок FS70L4 (378-187-1)
    Арт.: 378-187-1
    Угол наклона 0°- 20° (only - TH, - THS models)
    Источник света Optional 12 V / 100 W fibre-optic, non-stopped adjustment, light guide length 1.5m, power consumption 150W
    Модель с короткой базой FS70L4-S
    Регулировка фокуса Method: With concentric coarse and fine focusing wheels (right and left)Range: 50mm travel range, 0.1mm/rev. for fine adjustment, 3.8mm/rev. for coarse adjustment
    Расстояние между зрачками Siedentopf type, adjustment range: 51-76mm
    Крепление для камеры C-mount receptacle (with green filter switch)
    ФС-70Л/Л4 • The FS70L supports three YAG laser wavelengths (1,064 nm, 532 nm and 355 nm), while the FS70L4 supports two wavelengths (532 nm and 266 nm), thus expanding the scope of laser applications, allowing laser-cutting of thin-films used in semiconductors and liquid crystal substrates. However, Mitutoyo assumes no responsibility whatever for the performance and/or safety of the laser system used with Mitutoyo microscopes. A careful examination is recommended when selecting a laser-emission unit.• Bright field, Differential Interference Contrast (DIC) and polarized observations are standard with the FS70Z. The FS70L and FS70L4 do not support the DIC method.• By employing an inward-leaning turret, the long working distance objectives provide excellent operability.
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскопический блок (378-519)
    Быстрый просмотр
    Микроскопический блок (378-519)
    Арт.: 378-519
    Масса 1400 g
    Тип наблюдения Bright field (BF)
    Крепление для камеры Vertical
    Крепление для освещения Single port
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    M2 – Программное обеспечение для геометрических измерений для MF-микроскопа Программное обеспечение для обработки данных (63AAA456) M2 – Программное обеспечение для геометрических измерений для MF-микроскопа Программное обеспечение для обработки данных (63AAA456) M2 – Программное обеспечение для геометрических измерений для MF-микроскопа Программное обеспечение для обработки данных (63AAA456) M2 – Программное обеспечение для геометрических измерений для MF-микроскопа Программное обеспечение для обработки данных (63AAA456) M2 – Программное обеспечение для геометрических измерений для MF-микроскопа Программное обеспечение для обработки данных (63AAA456)
    Быстрый просмотр
    M2 – Программное обеспечение для геометрических измерений для MF-микроскопа Программное обеспечение для обработки данных (63AAA456)
    Арт.: 63AAA456
    Функции M2 Software for Measuring Microscopes
    Функция Without edge detection
    Применимые модели MF/MF-U microscopes with XY or XYZ counter
    Система состоит из M2 Metrology software on USB stick, 3(2) axis interface box,3 connecting cables (XYZ) for scales,Power supply and USB cable
    Необязательный, но необходимый аксессуар 63AAA597All-in-One-PC with touch screen
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Прицельная сетка № 4 (183-144) Прицельная сетка № 4 (183-144)
    Быстрый просмотр
    Прицельная сетка № 4 (183-144)
    Арт.: 183-144
    Радиус 0-10 mm (pitch= 0.5 mm); Angle: 0°- 90°; 1° pitch from 0°-10°; 5° pitch from 10°-90°
    Диаметр 0-1 mm (pitch= 0.1 mm); Grid Vertically 5 mm, Horizontal 10 mm scale (pitch 1 mm)
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Прозрачная лупа 10x (183-311) Прозрачная лупа 10x (183-311) Прозрачная лупа 10x (183-311)
    Быстрый просмотр
    Прозрачная лупа 10x (183-311)
    Арт.: 183-311
    Масса 28 g
    Увеличение 10x
    Поле зрения ø28 mm
    Диафрагма ø 25 mm
    Размеры упаковки 58 (L) x 40 (W) x 40 (H) mm
    Масса упаковки (БРУТТО) 36 g
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскопический блок FS70ZTHS (378-185-4) Микроскопический блок FS70ZTHS (378-185-4) Микроскопический блок FS70ZTHS (378-185-4) Микроскопический блок FS70ZTHS (378-185-4)
    Быстрый просмотр
    Микроскопический блок FS70ZTHS (378-185-4)
    Арт.: 378-185-4
    Угол наклона 0°- 20° (only - TH, - THS models)
    Источник света Optional 12 V / 100 W fibre-optic, non-stopped adjustment, light guide length 1.5m, power consumption 150W
    Регулировка фокуса Method: With concentric coarse and fine focusing wheels (right and left)Range: 50mm travel range, 0.1mm/rev. for fine adjustment, 3.8mm/rev. for coarse adjustment
    Расстояние между зрачками Siedentopf type, adjustment range: 51-76mm
    Крепление для камеры C-mount (using optional adapter B)
    ФС-70Л/Л4 • The FS70L supports three YAG laser wavelengths (1,064 nm, 532 nm and 355 nm), while the FS70L4 supports two wavelengths (532 nm and 266 nm), thus expanding the scope of laser applications, allowing laser-cutting of thin-films used in semiconductors and liquid crystal substrates. However, Mitutoyo assumes no responsibility whatever for the performance and/or safety of the laser system used with Mitutoyo microscopes. A careful examination is recommended when selecting a laser-emission unit.• Bright field, Differential Interference Contrast (DIC) and polarized observations are standard with the FS70Z. The FS70L and FS70L4 do not support the DIC method.• By employing an inward-leaning turret, the long working distance objectives provide excellent operability.
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскопический блок FS70Z (378-185-1) Микроскопический блок FS70Z (378-185-1) Микроскопический блок FS70Z (378-185-1) Микроскопический блок FS70Z (378-185-1)
    Быстрый просмотр
    Микроскопический блок FS70Z (378-185-1)
    Арт.: 378-185-1
    Угол наклона 0°- 20° (only - TH, - THS models)
    Источник света Optional 12 V / 100 W fibre-optic, non-stopped adjustment, light guide length 1.5m, power consumption 150W
    Модель с короткой базой FS70Z-S
    Регулировка фокуса Method: With concentric coarse and fine focusing wheels (right and left)Range: 50mm travel range, 0.1mm/rev. for fine adjustment, 3.8mm/rev. for coarse adjustment
    Расстояние между зрачками Siedentopf type, adjustment range: 51-76mm
    Крепление для камеры C-mount (using optional adapter B)
    ФС-70Л/Л4 • The FS70L supports three YAG laser wavelengths (1,064 nm, 532 nm and 355 nm), while the FS70L4 supports two wavelengths (532 nm and 266 nm), thus expanding the scope of laser applications, allowing laser-cutting of thin-films used in semiconductors and liquid crystal substrates. However, Mitutoyo assumes no responsibility whatever for the performance and/or safety of the laser system used with Mitutoyo microscopes. A careful examination is recommended when selecting a laser-emission unit.• Bright field, Differential Interference Contrast (DIC) and polarized observations are standard with the FS70Z. The FS70L and FS70L4 do not support the DIC method.• By employing an inward-leaning turret, the long working distance objectives provide excellent operability.
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскопический блок FS70 (378-184-1) Микроскопический блок FS70 (378-184-1) Микроскопический блок FS70 (378-184-1) Микроскопический блок FS70 (378-184-1)
    Быстрый просмотр
    Микроскопический блок FS70 (378-184-1)
    Арт.: 378-184-1
    Угол наклона 0°- 20° (only - TH, - THS models)
    Источник света Optional 12 V / 100 W fibre-optic, non-stopped adjustment, light guide length 1.5m, power consumption 150W
    Модель с короткой базой FS70-S
    Регулировка фокуса Method: With concentric coarse and fine focusing wheels (right and left)Range: 50mm travel range, 0.1mm/rev. for fine adjustment, 3.8mm/rev. for coarse adjustment
    Расстояние между зрачками Siedentopf type, adjustment range: 51-76mm
    Крепление для камеры C-mount (using optional adapter B)
    ФС-70Л/Л4 • The FS70L supports three YAG laser wavelengths (1,064 nm, 532 nm and 355 nm), while the FS70L4 supports two wavelengths (532 nm and 266 nm), thus expanding the scope of laser applications, allowing laser-cutting of thin-films used in semiconductors and liquid crystal substrates. However, Mitutoyo assumes no responsibility whatever for the performance and/or safety of the laser system used with Mitutoyo microscopes. A careful examination is recommended when selecting a laser-emission unit.• Bright field, Differential Interference Contrast (DIC) and polarized observations are standard with the FS70Z. The FS70L and FS70L4 do not support the DIC method.• By employing an inward-leaning turret, the long working distance objectives provide excellent operability.
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Транспортирная диаграмма ø 300 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (63AAA551)
    Быстрый просмотр
    Транспортирная диаграмма ø 300 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (63AAA551)
    Арт.: 63AAA551
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Радиус и транспортирная диаграмма D=500 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (63AAA533) Радиус и транспортирная диаграмма D=500 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (63AAA533)
    Быстрый просмотр
    Радиус и транспортирная диаграмма D=500 мм Накладная диаграмма для измерительного проектора (63AAA533)
    Арт.: 63AAA533
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    M План APO HR 10X (378-788-15) M План APO HR 10X (378-788-15)
    Быстрый просмотр
    M План APO HR 10X (378-788-15)
    Арт.: 378-788-15
    Функции M Plan Apo HR for Bright Field Observation Compatible with microscope types VMU / FS-70 / MF-U / Hyper MF-UNote: These objectives offer extra-high resolving power.
    Масса 455 g
    Р 0.7 µm
    Рабочее расстояние In Air: 15 mm
    NA 0.42
    Сокращения в таблице продуктов N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size
    Исправленная длина волны 436-656 nm
    ф 20 mm
    ПД 95 mm
    Поле зрения 1 ø2.4 mm
    Поле зрения 2 0,48 x 0,64 mm
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Микроскоп MF-UB1010D (176-876-10)
    Быстрый просмотр
    Микроскоп MF-UB1010D (176-876-10)
    Арт.: 176-876-10
    Масса 67 kg
    Изображение наблюдения Erect
    Диапазон перемещения стола XY 100 x 100 mm
    Макс. высота заготовки 150 mm
    Точность показаний (при 20°С) XY-axis: (2,2+0,02L) µmZ-axis: (5+0,04L) µmL: Measuring length (mm) when not loaded, JIS B 7153
    Плавающая функция X and Y axes with Quick-release mechanism
    Размер верхней части XY-платформы 280 x 280 mm
    Эффективный размер стекла 180 x 180 mm
    Макс. нагрузка на ступень 10 kg
    Система измерения X, Y and Z axis (3 axes)
    Тип наблюдения Bright Field (BF)
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Объектив для TM 5X (176-139)
    Быстрый просмотр
    Объектив для TM 5X (176-139)
    Арт.: 176-139
    Функции Objective Lenses and Eyepieces
    Рабочее расстояние 33 mm
    Числовая апертура 0.1
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Объектив для ТМ, окуляр 2X (176-138)
    Быстрый просмотр
    Объектив для ТМ, окуляр 2X (176-138)
    Арт.: 176-138
    Функции Objective Lenses and Eyepieces
    Рабочее расстояние 67 mm
    Числовая апертура 0.07
    Характеристики
    Отложить В отложенных
    Бренд
    По запросу
    Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
    Показать еще
    1 ... 8 9 10 11 12
    О компании
    Услуги
    Контакты
    +7 (495) 943-49-90
    info@mitutoyo-center.ru
    г. Москва, Кавказский бульвар, д. 59

    Поставка и поверка инструмента Mitutoyo

    2026 © Центр измерительного инструмента